MiniTest 700測厚儀Elektrophysik代理

更新時間：	2025-09-07
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MiniTest 700測厚儀Elektrophysik代理。在對精度要求不高的條件下，您可以短時間測量大量數值；也可以只測量少數幾個數值，但要求精度很高，您只需選擇相應的模式就可以做到。測量值超過您所設定的極限值時，儀器會報警，保證您即使在快速模式下也不會錯過任何信息。儀器具備聲、光報警，在極限范圍內用綠色LED燈表示，超過極限值則用紅色LED燈提示。

MiniTest 700測厚儀Elektrophysik代理的詳細資料：

品牌	ElektroPhysik/德國EPK	價格區間	1千-5千
產地類別	進口	應用領域	電子/電池,道路/軌道/船舶,鋼鐵/金屬,航空航天,汽車及零部件

MiniTest 700測厚儀Elektrophysik代理

篤摯儀器（上海）有限公司的產品和系統方案廣泛應用于大中型國有企業、汽車制造業、精密機械、模具加工、電子電力、鑄造冶金、航空航天、工程建筑、大專院校等研究實驗室和生產線、質量控制和教育事業，用于評價材料、部件及結構的幾何特征和理化性能，推動著精良制造技術的精益求精。

MiniTest 700多功能測厚儀是一款多功能涂層測厚儀，高精度和更加靈活耐用的探頭，自動識別操作方便。結構緊密和多功能化的傳感器接入設備可用于各種測量工作。MINITEST700系列測厚儀能方便無損測量鋼鐵磁基板上非磁性涂料(油漆、合成材料、鉻等)和導電基板(鋁、銅、奧氏體不銹鋼)上的絕緣涂料(清漆、磁漆、合成材料,陽極化鋁等)。

MiniTest 700測厚儀有三個型號：

MINITEST 725:與集成傳感器測量裝置。
MINITEST 735:傳感器通過電纜連接到測量設備。
MINITEST 745:傳感器就可以插入設備(相當于一個集成的傳感器),通過電纜連接到設備,或通過藍牙無線連接到設備。

技術特征：

創新的SIDSP(探頭內部數字信號處理)技術提升了測量的性
- 測量范圍達15mm，可F、N或FN探頭，提供內置或外接探頭
- FN探頭自動識別F(鐵磁性)或N(非磁性)基體，操作方便不易出錯

產品優點：

SIDSP使測量不受干擾，測值更加
- 可更換探頭使用更加靈活(MiniTest740探頭可由內置換為外置)
- FN探頭自動識別基體，使測量更迅速，避免操作錯誤
- 溫度補償功能避免溫度變化引起的錯誤
- 生產過程中50點校準使儀器獲得高度的特征曲線
- 大存儲量，能存儲10或100組多達100,000個讀數
- 讀數和統計值能單獨調出
- 超大，背光顯示屏，顯示內容可180度旋轉
- 菜單指引操作，25種語言可選
- 帶IrDA接口，紅外線傳輸數據到打印機和PC
- 可下載更新軟件

測量模式：

單一的模式
在單一模式下每分鐘70測量值可以記錄和保存。
連續模式
在連續模式下每秒計算高達20涂層的厚度值。在這種模式下你可以規定然后保存一系列測量的讀數。

技術參數--主機

主機型號	MiniTest720	MiniTest730		MiniTest740
探頭類型	內置	外置		內置外置可換
數據記憶組數	10	10		100
存儲數據量	最多10,000個	最多10,000個		最多100,000個
統計值	讀值個數、最小值、最大值、平均值、標準方差、變異系數、組統計值(標準設置/自由配置)
校準程序符合標準和規范	ISO、SSPC、瑞典標準、澳大利亞標準
校準模式	出廠設置校準、零點校準、兩點校準、三點校準，使用者可調節補償值
極限值監控	聲、光報警提示超過極限
測量單位	μm，mm，cm；mils，inch，thou
數據接口	IrDA 1.0(紅外接口)
電源	2節AA電池
標準	DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840 ASTM B244，B499，D7091，E376 AS 3894.3，SS 1841 60，SSPC- PA 2
操作溫度 /存放溫度	-10℃~60℃/-20℃~70℃
體積	157mm x75.5mmx49mm
重量	約175g	約210g	約175g(內置)/230g(外置)

技術參數-探頭

探頭特性		F1.5，N07，FN1.5		F2	F5，N2.5，FN5		F15
		F	N	F	F	N	F
測量范圍		0~1.5mm	0~0.7mm	0~2mm	0~5mm	0~2.5mm	0~15mm
使用范圍		小工件，薄涂層		粗糙表面	標準探頭，使用廣泛		厚涂層
測量原理		磁感應	電渦流	磁感應	磁感應	電渦流	磁感應
信號處理		探頭內部32位信號處理(SIDSP)
度		±(1μm+0.75%讀值)		±(1.5μm+0.75%讀值)			±(5μm+0.75%讀值)
重復性		±(0.5μm+0.5%讀值)		±(0.8μm+0.5%讀值)			±(2.5μm+0.5%讀值)
低端分辨率		0.05μm		0.1μm			1μm
最小曲率半徑(凸)		1.0mm		1.5mm			5mm
最小曲率半徑	(凹，外置探頭)	7.5mm		10mm			25mm
	(凹，內置探頭)	30mm		30mm			30mm
最小測量面積		?5mm		?10mm			?25mm
最小基體厚度		0.3mm	40μm	0.5mm	0.5mm	40μm	1mm
連續模式下測量速度		每秒20個讀數
單值模式下最大測量速度		每分鐘70個讀數