QNix 7500測厚儀尼克斯膜厚儀代理的詳細資料：

QNix 7500測厚儀尼克斯膜厚儀代理

影響QNix 尼克斯測厚儀測量的幾種因素
每一種測厚儀器都有一個臨界厚度，大于這個厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響;對試件表面形狀的陡變敏感，因此在靠近試件邊緣或內轉角處進行測量是不可靠的;試件的曲率對測量有影響，隨著曲率半徑的減少明顯地增大，因此，在彎曲試件的表面上測量也是不可靠的;
基體金屬和涂層的表面粗糙度對測量有影響。粗糙度增大，影響增大，粗糙表面會引起系統誤差和偶然誤差，每次測量時，在不同的位置上應增加測量的次數，以克服這種偶然誤差。如果基體上基體金屬粗糙，還必須在未涂的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個位置校對儀器的零點，或用對基體金屬沒有腐蝕的溶液溶解去除涂層后，再校對儀器的零點;
周圍各種電氣設備所產生的強磁場，會嚴重干擾磁性測厚工作;
探頭會使軟涂層試件變形，因此在這些試件上測不出可靠的數據;
妨礙探頭與涂層表面緊密接觸的附著物質，必須清除，在測量中，要保持壓力恒定，探頭與試件表面保持垂直，才能達到的測量。
磁性法測量厚度受基體金屬性變化的影響(在實際應用中，無損檢測低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的)，為避免熱處理和冷加工因素的影響，應使用與試件基體金屬具有相同性質的標準片對儀器進行校準;
基體金屬的電導率對測量有影響，而基體金屬的電導率與其材料成份及熱處理方法有關,應使用與試件基體金屬具有相同性質的標準片對儀器進行校準。

影響QNix 尼克斯測厚儀精度的十一條因素：
1、基體金屬磁性質
磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響，為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應使用與試件基體金屬具有相同性質的標準片對儀器進行校準;亦可用待涂覆試件進行校準。
2、基體金屬厚度
每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響。
3、基體金屬電性質
基體金屬的電導率對測量有影響，而基體金屬的電導率與其材料成分及熱處理方法有關。使用與試件基體金屬具有相同性質的標準片對儀器進行校準。
4、邊緣效應
本儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內轉角處進行測量是不可靠的。
5、曲率
試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。
6、試件的變形
測頭會使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測出可靠的數據。
7、表面粗糙度
基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會引起系統誤差和偶然誤差，每次測量時，在不同位置上應增加測量的次數，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個位置校對儀器的零點;或用對基體金屬沒有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對儀器的零點。
8、磁場
周圍各種電氣設備所產生的強磁場，會嚴重地干擾磁性法測厚工作。
9、附著物質
本儀器對那些妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質敏感，因此，必須清除附著物質，以保證儀器測頭和被測試件表面直接接觸。
10、測頭壓力
測頭置于試件上所施加的壓力大小會影響QNix 尼克斯測厚儀的使用方法測量的讀數，因此，要保持壓力恒定。
11、測頭的取向
測頭的放置方式對測量有影響。在測量中，應當使測頭與試樣表面保持垂直。
采用QNix 尼克斯測厚儀這種無損方法既不破壞覆層也不破壞基材，檢測速度快，能使大量的檢測工作經濟地進行，但前提是能了解影響QNix 尼克斯測厚儀精度的因素，做到有的放矢，在實際應用中才能真正發揮其作用。

QNix 7500測厚儀尼克斯膜厚儀代理

測量鋼，鐵，鋁，鋅，銅，黃銅7500模塊化測量系統提供高達5000μm的移動性，高測量精度，易于處理和不同尋常的應用。 QNix®7500是一種特別小巧便利的測量儀，用于對所有Fe和NFe襯底上的涂層厚度進行非破壞性測量。可以通過直接插入微型探頭或將探頭連接到插入的延長電纜上使用。只需放置閱讀。通過簡單的交換探頭，使QNix®7500適應相應的測量任務。可以使用多種可互換探頭。要更換探頭，只需拉出一個探針并插入另一個。然后立即開始使用儀表。簡單和用戶友好。即使在其基本版本中，QNix®7500也配備了RS 232或USB接口，可將讀數在線傳輸到PC。 盡管使用范圍非常廣泛，但QNix®7500特別小巧，方便。 創新的霍爾傳感器技術使得可以在沒有復雜的控制鍵和按鈕的情況下設計此儀表。 像Nix自動化博士所有的手持式測量儀器一樣，QNix®7500的特點是操作異常簡單，安全，測量精度高，便于使用和大容量存儲。