菲希爾DualScope MP0技術規格的詳細資料：

菲希爾DualScope MP0技術規格

技術規格：

量 程：0～2000μm。
精 度：±1μm（0～50μm）；±2%（50μm～1000μm）；±3%（1000μm～2000μm）。
重復精度： ±0.5μm（0～100μm）； ±0.5%（＞100μm）。
zui小測量曲率直徑：在精度范圍內，鐵基φ35mm，非鐵基φ50mm；
（在允許誤差＜10%時，鐵基為φ10mm，非鐵基為φ2mm）。
zui小測量面積直徑：φ4mm（在允許誤差＜10%時，為φ2mm）。
zui小基體厚度：鐵基0.2mm（誤差＜10%時）；非鐵基0.09mm（誤差＜10%時）。
重 量：60g（不含電池）。
外形尺寸：64mm×30m×85mm。
電 源：兩節5號電池。

標準配置：

主機一臺；鐵、鋁基體各一塊；標準片一套；手提儀器盒；掛鏈；兩節5號電池；操作手冊；出廠合格證書。

1、校正 
按下，屏幕“校正”位置相對應的按鈕。 
請注意需要使用未鍍過的底材，而且底材的形狀和材質必須和被測量的工件*。 
（1）正常化（儀器歸零）→ 按OK鍵進入→ 按屏幕提示測量底材（基材）3-5次→按OK鍵確認→屏幕顯示“正
常完成成功”，再次按OK鍵完成。 
（2）校正→按屏幕提示測量底材（基材）3-5次，不建議按屏幕中的“跳過”鍵跳過→按OK鍵確認→把標準片
放在前面的基材上，測量標準片 3-5 次→按“設置”鍵→進入設置界面后按↑↓鍵調整數值直到和標準片相同→按
“OK”鍵確定→以上步驟確認無誤后再按“OK”鍵至第二片標準片→校正步驟同*片→按“OK”確認。 
（儀器只附帶一片標準片，第二片時可以直接跳過；如客戶有多塊標準片，校正時請按從薄到厚的順序進行校正。） 
（3）簡易校準→在基材上測量200um以上的標準片3-5次左右，并設置相應數值→按“OK”鍵完成。（此功能
只適合200um以上的涂鍍層使用） 
（4）刪除校正 

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