麥考特測(cè)厚儀MIKROTEST G6使用說(shuō)明的詳細(xì)資料：

麥考特MIKROTEST G6使用說(shuō)明

一、應(yīng)用 型號(hào)不同的 Mikrotest 麥考特測(cè)厚儀，可無(wú)損傷地測(cè)量： a、鐵上的所有非磁性涂層。如：鉻、銅、涂漆、橡膠等； b、非鐵磁性基體上的電鍍鎳層； c、鐵上的電鍍鎳層。 上述中的鐵基體均指的是商業(yè)未硬化鋼（St33 到St60 或C15 到C45 號(hào)鋼）

二、儀器簡(jiǎn)介
麥考特磁性測(cè)厚儀
工作原理：Mikrotest 麥考特依據(jù)磁吸引力原理。 測(cè)量磁鋼（3）與磁性基體（鋼或鎳）間的磁吸力與盤狀彈簧 （6）的彈力平衡。盤狀彈簧的旋轉(zhuǎn)彈力的大小與涂層厚度直接相 關(guān)。平衡臂（4）保證了各種方位的準(zhǔn)確測(cè)量（如在垂直面或仰面 測(cè)量）。 Mikrotest 6 型測(cè)厚儀無(wú)需電池就可直接工作，Mikrotest 7 型 測(cè)厚儀則需要一節(jié)6V 堿性電池。

三、配置 Mikrotest 6 型（自動(dòng)型）測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)配置：手提繩、塑料盒 及中英文說(shuō)明書各一。

四、測(cè)量
測(cè)量前，請(qǐng)仔細(xì)清除磁頭和測(cè)量點(diǎn)的油污和灰塵，以免影響 測(cè)量結(jié)果。 使用 Mikrotest 6 型（自動(dòng)型） 如圖（1、2）所示，將Mikortest 麥考特測(cè)厚儀置于被測(cè)表 面；將指輪（5）向前旋轉(zhuǎn)到滿刻度以上部位（對(duì)于Nife50 和 Ni50 是向前推到0 位）。讓磁頭（3）吸附在被測(cè)表面；按下按鈕 （9），指輪會(huì)自動(dòng)地順時(shí)針旋轉(zhuǎn)，直到磁頭跳起，刻度盤也隨之 自動(dòng)停止轉(zhuǎn)動(dòng)，同時(shí)聽(tīng)到“呵噠"一聲。 此時(shí)，刻度盤上的讀數(shù)即為所測(cè)量覆層的厚度值。

注意：推動(dòng)指輪時(shí)，不能觸動(dòng)按鈕（9）； 指輪只能逆時(shí)針推動(dòng)，切勿順時(shí)針推動(dòng)。

五、在平面上測(cè)量
測(cè)量面方位對(duì)于測(cè)量沒(méi)有影響，注意技術(shù)數(shù)據(jù)表中所列的測(cè)量范圍和基體的厚度。

六、在曲面上測(cè)量 測(cè)量圓柱或圓形邊緣時(shí)，可以利用儀器測(cè)嘴上的 V 型口，所示。測(cè)量凹面時(shí)與測(cè)量平面相同，但要注意zui小曲率的 限制。

七、在粗糙表面測(cè)量
在粗糙表面測(cè)量時(shí)，讀數(shù)將增大（特別是在顆粒尖上）。 在特別粗糙（如峰值超過(guò)50um 的鋼基體上，并且涂層厚度超過(guò) 100um 時(shí)，實(shí)際讀數(shù)高于涂層真實(shí)厚度達(dá)20％之多。在這種情況 下應(yīng)至少測(cè)量6 次以上，得出平均值。

八、檢查度
測(cè)厚儀裝有磁鋼，在正常使用時(shí)是不會(huì)發(fā)生變化的。通常只 需偶爾或在懷疑讀數(shù)的正確性時(shí)去測(cè)量厚度標(biāo)準(zhǔn)，進(jìn)行調(diào)整。對(duì) 于這種測(cè)量可采用EPK 公司的厚度標(biāo)準(zhǔn)件。

表二
4件套標(biāo)準(zhǔn)板厚度 um
2 件套標(biāo)準(zhǔn)板厚度 um
單件標(biāo)準(zhǔn)板厚度 um 6 G 0，10，20，40 0，13 13 6 F 0，40，120，400 0，120 120 6 S3 220，320，1mm，2mm 220，2mm 6 S5 1mm,2mm,3mm,4mm 1mm,2mm 6 S10 3mm,4mm,5mm,8mm 6 NiFe50 0，8，15，30 0，10，

九、維護(hù) 使用和保存 Mikrotest 麥考特測(cè)厚儀時(shí)必須注意： ◆ 保證測(cè)厚儀遠(yuǎn)離磁鐵或電磁鐵，遠(yuǎn)離強(qiáng)磁場(chǎng)、強(qiáng)電 場(chǎng)； ◆  測(cè)厚儀節(jié)勿猛烈碰撞； ◆ 測(cè)厚儀用完后將指輪逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)，停在滿刻度附近后再放 入手提箱； ◆ 盡管 Mikrotest 測(cè)厚儀非常結(jié)實(shí)，也要象使用其它精密儀 器一樣，小心加以愛(ài)護(hù)。

十、備選件 EPK 針對(duì)Mikrotest 測(cè)厚儀可提供以下備選件： ◆ 厚度標(biāo)準(zhǔn)板，用于檢驗(yàn)測(cè)厚儀； ◆ 布背包，可在高空作業(yè)時(shí)使用； ◆ 濕膜測(cè)厚儀，用來(lái)測(cè)量濕涂層